array(2) { ["lab"]=> string(4) "1176" ["publication"]=> string(4) "9778" } Monte-Carlo prediction of single-event characteristics of 65 nm CMOS SRAM under hundreds of MeV/n heavy-ions in space - 单粒子效应研究组 | LabXing

单粒子效应研究组

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大学 中国科学院近代物理研究所 / 材料研究中心
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Monte-Carlo prediction of single-event characteristics of 65 nm CMOS SRAM under hundreds of MeV/n heavy-ions in space

2016
会议 2016 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
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