Electrical transport through a scanning tunnelling microscope tip and a heavily doped Si contact

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太阳能&表面物理实验室

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2013

期刊 Journal of Applied Physics

作者 Xieqiu Zhang · Kedong Wang · Wenjin Chen · M. M. T. Loy · J. N. Wang · Xudong Xiao

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卷 114
期 1
页码 013701
AIP Publishing
ISSN: 0021-8979
DOI: 10.1063/1.4812385

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