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#Gengsheng Chen
Large-tilt Heavy Ions Induced SEU in Multiple Radiation Hardened 22 nm FDSOI SRAMs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Characterization of Heavy Ion Induced SET Features in 22-nm FD-SOI Testing Circuits
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所