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#Peixiong Zhao
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Effects of total ionizing dose on single event effect sensitivity of FRAMs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所