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#Qing-Gang Ji
Heavy-ion and pulsed-laser single event effects in 130-nm CMOS-based thin/thick gate oxide anti-fuse PROMs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Heavy-ion induced radiation effects in 50 nm NAND floating gate flash memories
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Influences of total ionizing dose on single event effect sensitivity in floating gate cells
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所