#Shengkai Wang

Remote interfacial dipole scattering and electron mobility degradation in Ge field-effect transistors with GeOx/Al2O3gate dielectrics

铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所

Physically Based Evaluation of Effect of Buried Oxide on Surface Roughness Scattering Limited Hole Mobility in Ultrathin GeOI MOSFETs

铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所

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