#Tie-Shan Wang


Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
LabXing 上可以免费创建课题组网站
© LabXing 2018 关于LabXing 帮助中心 testing.service 京公网安备11010802025734号