#Ya-Nan Yin

Monte Carlo predictions of proton SEE cross-sections from heavy ion test data

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy-ion induced radiation effects in 50 nm NAND floating gate flash memories

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influences of total ionizing dose on single event effect sensitivity in floating gate cells

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

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