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Characterization of Heavy Ion Induced SET Features in 22-nm FD-SOI Testing Circuits

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Geant4 simulation of proton-induced single event upset in three-dimensional die-stacked SRAM device

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

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