array(2) { ["lab"]=> string(4) "1537" ["publication"]=> string(5) "14895" } On Study of Data Reliability of Threshold Sensing with Majority Circuit - 河科大电子系 IC课题组 | LabXing

河科大电子系 IC课题组

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大学 河南科技大学 / 电气工程学院
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On Study of Data Reliability of Threshold Sensing with Majority Circuit

2016
期刊 IEICE Technical Report on VLSI Design Technology
  • 卷 116
  • 期 93
  • 页码 191~196
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