#Dongqing Li


Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Effects of total ionizing dose on single event effect sensitivity of FRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所