#Hong Su

Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25 MeV/u 86 Kr ion microbeam at HIRFL

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Erratum to: Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of deposited energy in sensitive volume on temperature dependence of SEU sensitivity in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Supply voltage dependence of single event upset sensitivity in diverse SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

LabXing 上可以免费创建课题组网站