#Liewei Xu

Characterization of Heavy Ion Induced SET Features in 22-nm FD-SOI Testing Circuits

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

LabXing 上可以免费创建课题组网站