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#Lingyun Ke
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所