#Mingdong Hou


Investigation of the surface properties of gold nanowire arrays

纳米材料室 , 中国科学院近代物理研究所

The damage process induced by swift heavy ion in polycarbonate

纳米材料室 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of temperature on single event upset measurement by heavy ions in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Supply voltage dependence of single event upset sensitivity in diverse SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所