#Song Gu

Simulation of temporal characteristics of ion-velocity susceptibility to single event upset effect

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Erratum to: Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of temperature on single event upset measurement by heavy ions in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of deposited energy in sensitive volume on temperature dependence of SEU sensitivity in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Large energy-loss straggling of swift heavy ions in ultra-thin active silicon layers

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and Bulk Technologies

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Supply voltage dependence of single event upset sensitivity in diverse SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

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