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#Yongliang Li
Identification of a suitable passivation route for high-k/SiGe interface based on ozone oxidation
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Impact of Charges at Ferroelectric/Interlayer Interface on Depolarization Field of Ferroelectric FET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate-Stack
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所