array(2) { ["lab"]=> string(4) "1352" ["news"]=> string(4) "1028" } 赵淑景硕士的IEEE TED文章发表 - 铁电器件课题组（王晓磊） | LabXing

铁电器件课题组（王晓磊）

简介 半导体存储器件

大学 中国科学院微电子研究所 / 集成电路先导工艺研发中心
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赵淑景硕士的IEEE TED文章发表

恭喜赵淑景硕士的文章“Experimental Extraction and Simulation of Charge Trapping During Endurance of FeFET With TiN/HfZrO/SiO2/Si (MFIS) Gate Structure”发表在IEEE TED上

创建: Mar 04, 2022 | 18:20
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