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#Xueli Ma
Understanding dipole formation at dielectric/dielectric hetero-interface
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Comprehensive investigation of the interfacial charges and dipole in GeO x /Al2O3 gate stacks of Ge MOS capacitor by postdeposition annealing
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Evaluation of hole mobility degradation by remote Coulomb scattering in Ge pMOSFETs
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Identification of interfacial defects in a Ge gate stack based on ozone passivation
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Comprehensive understanding of the effect of electric dipole at high-k/SiO2 interface on the flatband voltage shift in metal-oxide-semiconductor device
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Band alignment of HfO2 on SiO2/Si structure
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Band alignment of TiN/HfO2 interface of TiN/HfO2/SiO2/Si stack
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Reexamination of band offset transitivity employing oxide heterojunctions
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
A possible origin of core-level shift in SiO2/Si stacks
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Physical origin of dipole formation at high-k/SiO2 interface in metal-oxide-semiconductor device with high-k/metal gate structure
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Identification of a suitable passivation route for high-k/SiGe interface based on ozone oxidation
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
On the applicability of Gibbs free energy landscape to the definition and understanding of transient negative capacitance in a ferroelectric capacitor
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Electron mobility in silicon nanowires using nonlinear surface roughness scattering model
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Hole mobility degradation by remote Coulomb scattering and charge distribution in Al2O3/GeOxgate stacks in bulk Ge pMOSFET with GeOxgrown by ozone oxidation
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Impact of Charges at Ferroelectric/Interlayer Interface on Depolarization Field of Ferroelectric FET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate-Stack
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Thermodynamic driving force of transient negative capacitance of ferroelectric capacitors
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所
Experimental Investigation of Remote Coulomb Scattering on Mobility Degradation of Ge pMOSFET by Various PDA Ambiences
铁电器件课题组（王晓磊） , 中国科学院微电子研究所